HAST試驗箱適用于半導體芯片行業,以及航空、航天、兵器、船舶、核工業、科研機構、高等院校等領域的電子元器件、零部件、集成電路、材料、工藝。它通過加速高溫、高濕、高壓循環和不斷測試,確認功能失效是由于耐久性(壽命)還是環境變化而發生。
產品名稱 |
高壓加速老化試驗箱(HAST) |
產品型號 |
HPSC251-M |
HPSC252-M |
工作室容積 |
51L |
51 L × 2罐 |
工作室尺寸 |
φ 380 × D450(R × D) |
φ 380 × D450(R × D)× 2罐 |
儲罐尺寸 |
φ 450 × D600(R × D) |
φ 450 × D600(R × D)× 2罐 |
外部尺寸 |
1200 × 1960 × 1140毫米(寬×高×深) |
1200 × 2170 × 1140毫米(寬×高×深) |
溫度范圍 |
105℃~150℃ |
溫度波動 |
≤±0.5℃ |
溫度均勻性 |
≤2℃ |
溫度偏差 |
±2℃ |
壓力范圍 |
110kPa~300kPa(絕對壓力) |