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Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST)

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Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST)

Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST)

Description

La chambre d'essai HAST convient à l'industrie des puces semi-conducteurs, ainsi qu'aux composants électroniques, composants, circuits intégrés, matériaux et processus dans les domaines de l'aviation, de l'aérospatiale, des armes, des navires, de l'industrie nucléaire, des institutions de recherche scientifique, des universités et d'autres domaines. Il confirme si les défaillances fonctionnelles se produisent en raison de la durabilité (durée de vie) ou des changements environnementaux en accélérant les cycles à haute température, à haute humidité et à haute pression et en essais continus.

Nom du produit Chambre d'essai de contrainte accélérée élevée (chambre HAST)
Modèle de produit HPSC251-M HPSC252-M
Volume du studio 51L 51 L × 2 réservoirs
Dimensions du studio φ380×D450 (R×D) φ380 × D450 (R × D) × 2 réservoirs
Dimensions du réservoir de stockage φ450×D600(R×D) φ450 × D600 (R × D) × 2 réservoirs
Dimensions extérieures 1200 x 1960 x 1140 mm (largeur x hauteur x profondeur) 1200 x 2170 x 1140 mm (largeur x hauteur x profondeur)
Plage de température 105℃~150℃
Fluctuations de température ≤±0.5℃
Homogénéité de la température ≤2℃
Déviation de température ±2℃
Plage de pression 110kPa ~ 300kPa (pression absolue)